一、自動(dòng)測(cè)試線部分

（一）技術(shù)指標(biāo)

1、適用測(cè)試規(guī)格：孔距15mm，孔徑4mm

2、激光打標(biāo)：1臺(tái)，功率30W，品牌電腦配置；

3、AC耐壓測(cè)試：配置8臺(tái)AC耐壓測(cè)試儀，每一臺(tái)測(cè)試4件產(chǎn)品，可同時(shí)測(cè)試32件產(chǎn)品；

4、DC耐壓測(cè)試：配置6臺(tái)DC耐壓測(cè)試儀，每一臺(tái)測(cè)試2件產(chǎn)品，可同時(shí)測(cè)試12件產(chǎn)品。

5、CP測(cè)試：配置2臺(tái)高速LCR數(shù)字電橋，每一臺(tái)測(cè)試1件產(chǎn)品；

6、IR測(cè)試：充電測(cè)試儀1臺(tái)，可同時(shí)充電20件產(chǎn)品；8通道高電阻測(cè)試儀1臺(tái)，可同時(shí)測(cè)試8件產(chǎn)品

。

7、標(biāo)識(shí)檢測(cè)：預(yù)留；

8、包裝方式：折疊式、拔腳式、切腳式三種。

（二）測(cè)試工藝流程

裝料——拖料轉(zhuǎn)——緩沖——激光打印——緩沖——引線——尾腳切除 CP1(容量、損耗)測(cè)試及不

合格切除——緩沖                ——AC耐壓測(cè)試——緩沖——DC耐壓測(cè)試及不合格切除——緩沖——

IR（絕緣電阻）測(cè)試及不合格切除——緩沖——CP2(容量、損耗)測(cè)試及不合格切除——標(biāo)識(shí)檢測(cè)

及不合格切除（預(yù)留）——緩沖——外觀檢測(cè)——緩沖——折疊式包裝 拔腳式包裝——切腳式包

裝——切料帶