牛津CMI900儀器介紹
CMI 900   系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用


于材料的涂/鍍層   厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提


供準(zhǔn)確、快速的分析.基于WindowsXP
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900主機(jī)的全面


自動化控制，
  PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)
技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行


業(yè)
A   CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液


體，極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成


份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um   (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分


析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相


對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)


據(jù)分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀