XP 243E 引腳浮起檢測(cè)功能
QFP,VQFP,SOIC,接插件等有引腳元件的引腳浮起可以以獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)用影像處理進(jìn)行檢查。測(cè)定檢測(cè)面上全部引腳的上下方向的位置,比較最浮起的引腳和最彎下的引腳之間的距離是否在公差值范圍內(nèi)。
軟件版本更新   吸收芯片元件沖擊的備份單元
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