國家有色金屬及電子材料分析測試中心,針對單晶基片及其完美性分析或點陣失配外延層薄膜(晶體完整性和異質外延結構),通過高分辨X射線衍射測量(X射線雙晶衍射搖擺曲線)提供微結構、微成分和微缺陷等方面的大量信息。
電話:010-82241374 010-82241289
傳真:010-82241289
網(wǎng)址:www.ncatn.com
關于我們 | 友情鏈接 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 最新產(chǎn)品
浙江民營企業(yè)網(wǎng) www.kgqt.cn 版權所有 2002-2010
浙ICP備11047537號-1