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根據(jù)受檢制件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)  、制造方法、工作介質(zhì)、使用條件和失效模式,預(yù)計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷種類、形狀、部位、和方向,選擇適宜的無(wú)損檢測(cè)方法。
常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法有:   
        超聲檢測(cè)  Ultrasonic  Testing(縮寫  UT);   
        射線檢測(cè)  Radiographic  Testing(縮寫  RT);   
        磁粉檢測(cè)  Magnetic  particle  Testing(縮寫  MT);   
        滲透檢驗(yàn)  Penetrant  Testing  (縮寫  PT);   
 
射線和超聲檢測(cè)主要用于內(nèi)部缺陷的檢測(cè);磁粉檢測(cè)主要用于鐵磁體材料制件的表面和近表面缺陷的檢測(cè);滲透檢測(cè)主要用于非多孔性金屬材料和非金屬材料制件的表面開口缺陷的檢測(cè);鐵磁性材料表面檢測(cè)時(shí),宜采用磁粉檢測(cè)。渦流檢測(cè)主要用于導(dǎo)電金屬材料制件表面和近表面缺陷的檢測(cè)。
當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)構(gòu)件的  同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí),應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別;采用同種檢測(cè)方法按不同檢測(cè)檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí),如檢測(cè)結(jié)果不一致,應(yīng)危險(xiǎn)大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn)。
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