薄膜材料方阻測試硅晶塊電阻測試儀

一、概述：本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二、廣泛用于：覆蓋膜 導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜 隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙 金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜 熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜 電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

三、參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-6～2×10²Ω/□

2.電阻率范圍：10^-7～2×10³Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ，50Hz  功 耗：< 30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 2.方形探頭； 3.直線形探頭； 4.測試平臺

11.測試探頭：  探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針 白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè). 

企業(yè)名稱：寧波江北瑞柯偉業(yè)儀器有限公司    
通訊地址：浙江省寧波市江北區(qū)洪塘街道橫山村前王1號    
經(jīng)營范圍：粉末堆密度儀，電壓降測試儀，粉體和顆粒特性測定儀，體積電阻率測試儀，接觸壓降測試儀，休止角測定儀，粉末電阻率測試儀，安息角測定儀，休止角測試儀，松裝密度測定儀，振實密度儀，斯柯特容量計，霍爾流速計， 堆積密度測定儀，粉體特性綜合測試儀，粉末流動性測試儀，表觀密度測定儀，密度計，體積密度測定儀，比重計，真密度儀，表面電阻率測試儀，導(dǎo)體電阻率測試儀，四探針測試儀，粉體和顆粒形狀分析儀，粉末綜合測量粉末堆密度儀，電壓降測試儀，粉體和顆粒特性測定儀，體積電阻率測試