金屬鍍層厚度采取的測(cè)試

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金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有：
1、光學(xué)顯微鏡法
2、庫(kù)侖法
3、X射線熒光法（XRF）
其他的金屬鍍層測(cè)試有
1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試
2、鍍鋁量測(cè)試
3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試
4、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度（重量法）
5、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量
6、剪切試驗(yàn)
7、杯突試驗(yàn)
鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
1、  光學(xué)顯微鏡法包括：1.GB/T  6462-2005
2.ASTM  B487-07
3.ISO  1463-2003
4.EN  ISO  1463-2004
5.JIS  H8501-1999
2.  庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括：1.ASTM  B504-07
2.GB/T  4955-2005
3.ISO  2177-2003
4.DIN  EN  ISO2177-2004
5.JIS  H8501-1999
3.  X射線熒光法（XRF）檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T  16921-05
2.ISO  3497-2000
3.DIN  EN  ISO  3497-2001
4.ASTM  B568:1998
5.ASTM  A754-2006
6.JIS  H8501-1999