美國博曼臺式半導體膜厚儀是一款設(shè)計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業(yè)中對質(zhì)量保證和過程控制的要求。
美國博曼臺式半導體膜厚儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的元素。
它的優(yōu)勢有:
1.高性能、高精度、長期穩(wěn)定性、快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本最優(yōu)化，精確測定元素厚度，優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅固耐用的設(shè)計：可靠近生產(chǎn)線或在實驗室操作，生產(chǎn)人員易于使用.
3.簡單的校準調(diào)試：在沒有標準片時，經(jīng)驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結(jié)果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認證標準片以確保最佳精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025），預(yù)置了多種校準參數(shù).
美國博曼臺式半導體膜厚儀特別適合于小的鍍層測量，如端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層.
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