銷售美國(guó)Agilent4287A/HP4287A阻抗分析儀周玲135-1050-0080
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要技術(shù)資料
4287A射頻LCR測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n5968-5443E
4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n5968-5758E
LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購指南，p/n5952-1430E


詳細(xì)說明:
HP4287A阻抗分析儀
·1MHz～3GHz，以100KHz分檔
·阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ
·在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
·基本精度為1%
·高速測(cè)量9ms


Agilent4287A射頻測(cè)試儀
與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。


生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠
HP4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非常快。此外，在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)


性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。


系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
HP4287A測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有


任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)


雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。


便于使用
HP4287A.8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)


分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7SMD測(cè)量夾
一般指標(biāo)
電源要求：90V～132V，或198V～264V，47Hz～63Hz，350VAmax
工作溫度/濕度:5℃～40℃，相對(duì)濕度20%～80%
尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機(jī)）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機(jī)/測(cè)試頭）








備注：
我們的優(yōu)勢(shì)：
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