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4339B高電阻表,DC
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
測量范圍
寬量程::103ohm至1.6x1016ohm
測量速度
高速測量:10ms
更多特性
穩(wěn)定的測試夾具:電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具
測試序列編程
電阻系數(shù)計(jì)算
接地被測件測量
描述
4339B高電阻表是是德進(jìn)行精密高阻抗測量的最憲進(jìn)的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量過程(充電-測量-放電)。現(xiàn)已提供多種元件測試夾具和材料測試。
4349B4通道高值電阻表
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
測量速度
9.5ms的測量速度
更多特性
4個通道,可用于多個被測件
4個通道同時測試
快速接觸檢查:2毫秒/點(diǎn)
GPIB和處理器接口
描述
Keysight4349B增加測試吞吐率,同時對4通道絕電阻進(jìn)行測量。
KeysightLCR表、阻抗分析儀和測試夾具-選型指南
I-V法適用的頻率范圍從40Hz到110MHz,能夠測量的阻抗范圍要小一些,另外也適用于用探頭進(jìn)行測量的在線測試。
RFI-V法是I-V法的擴(kuò)展,在I-V法所適用的阻抗測試范圍內(nèi),又增加了網(wǎng)絡(luò)分析在高頻測量時所具有的一些優(yōu)點(diǎn)。
RFI-V法是專為精確地分析和測量射頻器件的高頻特性而設(shè)計(jì)的,在測量小電感和小電容方面體現(xiàn)出優(yōu)越的性能。
此外,是德科技的網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了阻抗測量解決方案,綜合運(yùn)用三種測量方法(反射、串聯(lián)直通和并聯(lián)直通)進(jìn)行S參數(shù)和增益相位測量。
阻抗分析儀
是德科技阻抗分析儀具有mΩ至MΩ阻抗范圍和5Hz至3GHz頻率范圍,提供同類產(chǎn)品無法匹敵的測量精度。您可以選擇適合自身應(yīng)用的頻率范圍。
可對頻率、直流偏置、交流電壓/電流的大小進(jìn)行掃描,您可以自行決定在哪些測量條件下以何種方式得到測試結(jié)果
內(nèi)置等效電路分析功能可以給被測件找出一個符合應(yīng)用條件的多元件電路模型
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憲進(jìn)的校準(zhǔn)和補(bǔ)償方式可以顯著降低測量誤差/多種夾具選擇滿足各種應(yīng)用需求:材料介電常數(shù)和磁導(dǎo)率、元器件高溫特性表征,各種無源器件,以及接地測量的阻抗探針等等
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